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[00053243]一种面向嵌入式系统的磁盘I/O测试系统

交易价格: 面议

所属行业: 分析仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201110338244.7

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 华南理工大学

所在地: 广东广州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明公开了一种面向嵌入式系统的磁盘I/O测试系统,包括客户端、目标机端,客户端与目标机端网络连接,所述客户端包括:传输控制模块、数据处理模块、显示交换模块;所述目标机端包括:测试代理模块、测试执行模块。本发明的有益效果是测试在特定系统中嵌入式磁盘I/O的性能、对系统的磁盘I/O进行实时监测并分析是否存在瓶颈、对进程的磁盘I/O情况进行实时监测并实时获取系统中运行的软件对磁盘的I/O访问情况、对磁盘的每一次I/O访问进行跟踪记录并可存入数据库,本发明一方面是驱动层对磁盘I/O进行监测,另一方面可在磁盘测试中使用收集到的日常读写数据作为输入源以模拟实际应用,最终得到对被测试磁盘真实可靠的性能评价。

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