[00053289]批量测试发光二极管寿命的电路系统
联系人： 华南理工大学
所在地： 广东广州市
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技术详细介绍
摘要：本实用新型公开了一种批量测试发光二极管寿命的电路系统，包括计算机、数字输出模块、若干个测试单元、地址解析模块和信号复用模块、数字电压表；所述计算机与数字输出模块连接；所述数字输出模块的控制信号输出端与测试单元连接，地址信号输出端分别与地址解析模块和信号复用模块连接；所述地址解析模块通过信号总线与测试单元连接；所述信号复用模块的使能端、输入端和输出端分别与地址解析模块、测试单元和数字电压表连接；所述数字电压表与计算机连接。本实用新型的电路系统结构合理、成本较低，通过若干个测试单元可对大批量的有机或者无机发光二极管的寿命进行测试工作，且具有测试速度快、精度高和以及良好可靠性的优点。
