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摘要:本发明公开了一种阻变存储元件,其异质结构层形式为Ag/a-IGZO/Pt或Ag/a-IGZO/Au,其中的a-IGZO层为非晶的IGZO阻变存储层,所述a-IGZO层中In、Ga、Zn原子的摩尔比为1∶1∶1。本发明还公开了所述阻变存储元件的制备方法,其通过将自制的IGZO陶瓷靶材采用射频磁控溅射的方法在Pt/Ti/SiO2/Si基片或Au/Ti/SiO2/Si基片上沉积形成a-IGZO层,然后进行高温退火处理,形成a-IGZO/Pt异质结构层或a-IGZO/Au异质结构层;然后将Ag上电极靶材采用直流磁控溅射的方法在在a-IGZO层上沉积形成Ag上电极层,从而形成Ag/a-IGZO/Pt异质结构层或Ag/a-IGZO/Au异质结构层。本发明所制备的阻变存储元件性能稳定,具有较好的抗疲劳性以及保持特性。