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[00054527]一种基于激发发射光谱分离同时测量受体‑供体量子产额之比与消光系数之比的方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201710649949.8

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 华南师范大学

所在地: 广东广州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明公开一种基于激发发射光谱分离同时测量受体‑供体量子产额之比与消光系数之比的方法,属于FRET检测技术领域。该方法包括如下步骤测量2种或2种以上受体个数与供体个数比值相同且FRET效率不同的供体‑受体串联样本的激发发射光谱SDA[i],并将SDA[i]按照三个激发发射光谱基矢进行线性分离得到三个权重因子WD[i],WA[i]和WS[i];以WA/WD为自变量,WS/WD为因变量,线性拟合WA[i]/WD[i]、WS[i]/WD[i],线性方程的斜率与nA/nD的乘积的倒数为KA/KD,截距的绝对值为QA/QD。本发明测量过程简单、测量时间短、测量结果稳定并且适用于不同的检测系统。

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