交易价格: 面议
所属行业: 分析仪器
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201210071234.6
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 华南理工大学
所在地: 广东广州市
摘要:本发明公开了一种基于X光图像的元器件封装气泡检测方法,包括以下步骤:(1)采集被封装元器件的X光图像,得到X光图像矩阵;(2)对所述X光图像矩阵进行预处理;(3)初步确定气泡的边缘:通过Canny边缘检测法对经预处理的X光图像进行检侧,得到二值图像矩阵A;(4)确定气泡的边缘轮廓、质心以及面积。本发明实现了对元器件封装中的气泡进行精确定位,并且具有检测速度快的优点。
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