X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们 | 帮助中心
欢迎来到天长市科技大市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00055101]一种用于集成电路封装中的X射线图像小波同态滤波方法

交易价格: 面议

所属行业: 分析仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201310561417.0

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 华南理工大学

所在地: 广东广州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:发明公开了一种用于集成电路封装中的X射线图像小波同态滤波方法,包括以下步骤:(1)采集被封装元器件的X射线图像,得到X射线图像f(x,y);(2)对所述X射线图像f(x,y)进行对数变换,得到变换图像lnf(x,y);(3)通过小波变换将图像lnf(x,y)从空间域变换到频率域,得到频率域图像F(s,t);(4)选择同态滤波函数H(s,t),对频率域图像进行同态滤波,得到小波同态滤波后图像G(s,t);(5)对频率域图像G(s,t)进行小波反变换,得到空间域图像g(x,y);(6)对图像g(x,y)进行指数变换,得到最后的处理图ff(x,y)。本发明实现了集成电路封装过程的X射线图像噪声的有效去除,并且具有计算速度快,操作便捷的优点。

推荐服务:

Copyright  ©  2019    天长市科技大市场    版权所有

地址:滁州高新区经三路

皖ICP备2023004467