交易价格: 面议
所属行业: 分析仪器
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201310441865.7
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 华南理工大学
所在地: 广东广州市
摘要:本发明公开了一种基于锥束X光FDK算法的混合插值方法,包括以下步骤:(1)获取锥束X光CT投影数据;(2)对投影数据进行滤波;(3)通过插值法估计投影地址的投影值进行FDK算法反投影重建。本发明在投影数据跳变剧烈的区域重建图像边缘清晰,平均梯度值大于双线性插值法,能很好地保留重建图像的边缘细节。另外,本发明在投影数据平缓变化区域重建图像平滑,均方误差都小于最近邻插值法和双线性插值法,同时能较好地抑制噪声。
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