[00056578]晶粒尺寸影响超声波评价材料应力的修正方法
技术详细介绍
本发明公开了一种晶粒尺寸影响超声波评价材料应力的修正方法，属于超声波无损评价技术领域。该方法基于超声波在试样中能量衰减分析，制备传播距离恒定的双超声波探头，采用热处理方式获得不同晶粒尺寸的试样，通过超声波声弹性系数标定实验，计算并建立各晶粒尺寸试样超声波信号间时间差与应力间关系，采用线性拟合函数获得各晶粒尺寸试样的超声波声弹性系数，通过幂函数拟合获得超声波声弹性系数与晶粒尺寸间函数，进而实现晶粒尺寸影响超声波评价材料应力的修正。本发明为晶粒尺寸影响材料应力的评价提供了一种无损方法，具有快速、方便、安全，可实现在线评价等优点。
