X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们 | 帮助中心
欢迎来到天长市科技大市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00057122]单粒子束散射光强分布的测量装置及测量方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201610840673.7

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 华中农业大学

所在地: 湖北武汉市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明公开了一种单粒子束散射光强分布的测量装置,它包括光源、分光光路、光接收和探测组件以及微流控芯片组件,所述光源包括主测量光源、辅助测量光源和系统调整光源;所述分光光路包括分光镜和PIN管;所述光接收和探测组件包括90°离轴抛物面反射镜、望远镜镜组、光阑、滤光片、ICCD探测器、信号探测及发生电路、复合滤光片、PMT探测器、示波器和计算机;所述微流控芯片组件包括微流控芯片、光屏、三轴调节具和微流泵。另外,本发明还公开了一种单粒子束散射光强分布的测量方法。

推荐服务:

Copyright  ©  2019    天长市科技大市场    版权所有

地址:滁州高新区经三路

皖ICP备2023004467