摘要:本发明公开ZnO/AlN/Si多层结构薄膜及制备方法与应用,包括Si衬底,及Si衬底上依次叠层的具有c轴择优取向的AlN薄膜和ZnO薄膜。本发明以传统半导体工艺兼容性好的单晶Si(100)作为衬底材料,采用反应磁控溅射法,首先利用Al靶材反应溅射在Si衬底上生长出AlN(110)薄膜,然后通过AlN薄膜(110)晶面与ZnO(110)薄膜晶面较低的晶格适配度,利用Zn靶材反应溅射在AlN(110)薄膜上成长出ZnO(110)薄膜,最终形成ZnO(110)/AlN(110)/Si多层结构薄膜。本发明制备方法设备简单,工艺简便,成本低廉,为Love‑SAW传感器提供新型的压电薄膜材料。