[00058542]一种纳米成像技术测量样品的导热系数的方法
技术详细介绍
摘要：本发明涉及一种纳米成像技术测量样品的导热系数的方法，方法包括STEP1利用红外光脉冲加热样品；STEP2原子力显微镜(AFM)记录样品的形变，并绘制出地形图；STEP3根据样品的形变得到热膨胀函数；STEP4与分析软件中存储的对照物热膨胀函数进行对照，确定待测样品对应系统中的已有对照物信息；STEP5查看对照物的导热系数。本发明的有益效果是不仅可以得到待测物的热膨胀率，同时得到相互关联的导热系数，功能齐全，使用简单。
