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[00064634]用于X射线探伤后处理的定位标识系统

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201210204424.0

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 武汉工程大学

所在地: 湖北武汉市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:一种用于X射线探伤后处理的定位标识系统,包括机体底座、二维导轨机构、激光打标机构、数控系统、计算机和图像采集器;机体底座上设有用于放置待测工件的工作台,工作台表面设有三个不共线的点铅标;二维导轨机构包括纵向导轨机构和横向导轨机构,两导轨机构分别包括导轨、丝杠、滑块、电机和位置控制单元,纵向导轨机构设置于机体底座上,横向导轨机构设置于纵向导轨机构的滑块上;激光打标机构与计算机连接并设置于横向导轨机构的滑块下端;数控系统与纵向导轨机构和横向导轨机构的位置控制单元以及计算机分别连接,用于根据计算机的指令控制纵向导轨机构和横向导轨机构的动作;图像采集器与计算机连接,用于采集X射线底片信息。

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