X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们 | 帮助中心
欢迎来到天长市科技大市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00064685]无源静态共轴干涉成像光谱全偏振探测装置

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201010127350.6

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 西安交通大学

进入空间

所在地: 陕西西安市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

无源静态共轴干涉成像光谱全偏振探测装置包括共轴设置有的前置光学远望系统,静态全光调制模块,基于萨瓦板的静态干涉成像光谱仪,成像镜组,探测器,探测器后连接有信号获取与处理系统;目标源发出的光通过前置望远系统准直后经静态全光调制模块2调制,再经过基于萨瓦板的静态干涉成像光谱仪后,变成两束偏振光,这两束光经成像镜组后汇聚于探测器5上成像并发生干涉,最后送入信号获取与处理系统6;本发明具有结构简单紧凑、无运动部件、光通量大、可一次性获得目标二维空间像、一维光谱信息和完整偏振信息的特点。

推荐服务:

Copyright  ©  2019    天长市科技大市场    版权所有

地址:滁州高新区经三路

皖ICP备2023004467