本发明公开了具有高反射欧姆接触电极的紫外LED芯片制造方法,在衬底上生长有紫外量子阱结构的AlxGa1‑xN(0≤x≤1)半导体单晶薄膜,得到结构I;将半导体薄膜进行光刻、刻蚀,刻蚀到P型AlxGa1‑xN层,留下的P型GaN层的圆柱,P型GaN圆柱间距在0.3‑6微米间,将半导体薄膜进行光刻定义出芯片图形后将其刻蚀穿或不刻蚀穿;制作高反射欧姆接触层及阻挡层,通过键合或电镀或二者的混合方式将芯片转移到导电衬底上,最后制作成紫外LED器件,紫外LED通过用对紫外具有高反射率的Ni/Al、Pt/Al、Pd/Al等金属叠层在P型GaN及P型AlxGa1‑xN层形成较好的反射欧姆接触,提高了紫外光出光效率。