[00066597]光学三维轮廓测量中的无效点探测与剔除方法
技术详细介绍
本发明公开了一种光学三维轮廓测量中的无效点探测与剔除方法，以图中像素点对应的投影仪图像坐标到其对极线的距离，作为有效性判据，该判据直接关系后续的三维重建精度，不随被测物表面特性及测量环境等影响，具有全局适用性，避免了选取阈值不合适而造成无效点误探的问题，从而可以准确探测无效点并将其剔除，获得仅含有效点的三维重建结果，为后续点云噪声剔除、点云拼接及曲面重构提供高质量的数据。
本发明公开了一种光学三维轮廓测量中的无效点探测与剔除方法，以图中像素点对应的投影仪图像坐标到其对极线的距离，作为有效性判据，该判据直接关系后续的三维重建精度，不随被测物表面特性及测量环境等影响，具有全局适用性，避免了选取阈值不合适而造成无效点误探的问题，从而可以准确探测无效点并将其剔除，获得仅含有效点的三维重建结果，为后续点云噪声剔除、点云拼接及曲面重构提供高质量的数据。
