[00066603]一种光学三维形貌测量方法
技术详细介绍
一种光学三维形貌测量方法，先按照实际测量要求，布置好由投影系统、相机组成的测量系统；然后根据测量需要设计条纹图并由投影系统投影到被测物体表面，被物体反射的条纹图由相机采样；再从采样条纹图解调出包裹相位，解包裹后得到条纹图的真实相位值；然后由远心镜头的放大率、相机像元大小及采样条纹图的图像坐标求解得到被测物体X、Y轴坐标；最后标定得到投影系统的相关参数，结合条纹相位，根据三角关系求得被测物体Z轴的坐标；本发明标定过程简单，既提高了三维坐标的求解速度又能达到更高的测量精度；一次标定即可保证之后所有测量的使用，效率很高。
