交易价格: 面议
所属行业: 检测仪器
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201610158499.8
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 西安交通大学
进入空间
所在地: 陕西西安市
一种基于激光跟踪仪的机床空间精度全方位测量方法,先将靶镜与激光跟踪仪对好光,然后将靶镜吸附在转台装置上端十字滑台中心处,控制转台装置旋转,使激光跟踪仪激光束与靶镜端面尽可能垂直,然后调节十字滑台,使靶镜中心与转台装置回转中心的位置重合,再从第一基站处向下一个基站方向移动激光跟踪仪,然后控制转台装置旋转,调节完成后基站处的测量,重复完成整个测量过程,实现单台激光跟踪仪在机床四周任意方位的快速低成本测量,本发明方法可以在靶镜周边任意方位设立基站,更精确更快速的实现精度测量。
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