[00066761]一种具有自校正功能的超声波测厚技术
技术详细介绍
本发明涉及一种具有自校正功能的超声波测厚技术。传统的超声波测厚技术是检测超声波在被测件中的飞跃时间T，然后利用超声波的声速V，利用D=VT/2即可求出被测件的厚度。然而不同的被测材料，或者随着被测件温度的变化，超声波在被测件中的传播速度会发生改变，如果不加以修正就会引起很大的测量误差。本发明提出的自校正超声波测厚技术，设置一个超声波探头（3）同时作为超声波发射端也超声波接收端，在超声波探头（3）与被测件（1）之间引入一个已知厚度的校正块(2)，校正块(2)的材料与被测件(1)的材料一致，通过测量超声波在校正块(2)中的飞跃时间以及超声波在被测件(1)中的飞跃时间，即可求出被测件的厚度，起到了自校正的功能。
