交易价格: 面议
所属行业: 其他电气自动化
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201610318292.2
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 西北大学
所在地: 陕西西安市
摘要:本发明公开了一种在Si(100)衬底上制备不同晶相择优生长InN的方法,包括采用磁控溅射法在Si(100)衬底上进行(100)晶相InN、(002)晶相InN及(101)晶相InN的生长;所述的(100)晶相InN为三棱柱结构,(002)晶相InN为正六棱柱结构,(101)晶相InN为正方体结构。从微观结构上看,InN的排列致密,均一性好,根据不同的取向和微观形貌可以用作不同需求的传感器材料。(100)晶相InN与衬底的应力大小为0。
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