本发明一种直耦造波的表面残余应力超声检测方法属于超声检测技术领域,涉及一种直耦造波的表面残余应力超声检测方法。该方法采用了耦合剂直接耦合的造波方式,超声波经单一耦合剂介质,直接入射至被测材料,采用的直耦造波式超声探头为“一发双收”的应力测量模式。首先设计并组装直耦造波式超声探头,将组装后的直耦造波式超声探头放置到被测材料的表面,并保持测量基面与表面充分接触。耦合剂经由阀口被稳定注入到耦合剂空腔中,形成超声波直接传播通路,进行表面残余应力超声检测。该方法同时完成造波与耦合,超声波传播界面少,保证了接收信号质量,提高了信噪比。采用的应力测量模式,保证声时差计算精度,提高了测量空间分辨率。