X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们 | 帮助中心
欢迎来到天长市科技大市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00070733]一种高分辨率的二维参数估算方法

交易价格: 面议

所属行业: 分析仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201410631671.8

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 西北大学

所在地: 陕西西安市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明公开了一种高分辨率的二维参数估算方法,属于雷达技术领域。本发明通过采样记录天线各传感器通道接收的数据,将采样数据排成列向量的形式,在时间域、空间域和延迟域形成相关矩阵,对相关矩阵进行去噪处理,利用循环特征分解方法计算信号子空间,从信号和噪声子空间的关系求解噪声子空间,得到噪声子空间的投影矩阵,基于投影矩阵反解目标方位和俯仰信息,避免了经典MUSIC方法在区分信号子空间和噪声子空间时性能出现急剧下降的问题,提高了确定信源的方位角、俯仰角时准确性。

推荐服务:

Copyright  ©  2019    天长市科技大市场    版权所有

地址:滁州高新区经三路

皖ICP备2023004467