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[00071214]一种点激光测量系统的现场标定和精密测量方法

交易价格: 面议

所属行业: 分析仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201010604003.8

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 江南大学

所在地: 江苏无锡市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明针对传统的点激光-相机测量系统标定条件苛刻、标定步骤繁琐的缺点;通过分析相机的成像原理,建立相机成像模型,引入了基线距和基准角这两个结构参数的概念,设计了一种简单灵活的点激光测量系统的现场标定和精密测量方法。该方法只需要两个标准的平面高度H1和H2即可精确完成系统结构的标定任务,并且利用该算法的点激光-相机测量系统有较高的测量精度,可以达到精密测量的要求。该算法使得点激光-相机的结构可调,以及系统结构参数的现场标定成为可能;大大增加了激光测距系统的灵活性,对实际的视觉测量具有重要意义。

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