[00071540]一种基于采样和集成学习的软件更改缺陷预测方法

交易价格： 面议

所属行业： 分析仪器

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201710213864.5

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：西安交通大学

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所在地：陕西西安市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明公开了一种基于采样和集成学习的软件更改缺陷预测方法，S1根据软件对应的版本库提取分类实例集；S2根据S1得到的分类实例集获得最佳的总分类模型；S3根据软件更改实例以及S2得到的最佳的总分类模型获取该更改实例的类标签，即可判断此次更改是否引入缺陷。本发明可以解决软件更改缺陷预测中数据不均衡，预测效果不理想的问题。

[00071540]一种基于采样和集成学习的软件更改缺陷预测方法

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