[00072510]一种利用超声相控阵检测孔型缺陷的定量评价方法
技术详细介绍
摘要：本发明涉及一种利用超声相控阵检测孔型缺陷的定量评价方法，当超声波束遇到一定深度的孔型缺陷时，大部分的声波发生反射，只有少部分的声波发生衍射绕过孔型缺陷传播，探头接收到孔型缺陷的反射回波和衍射回波，利用二者的声程差对孔型缺陷进行定量评价。本发明与普通的超声相控阵相比，其技术效果为：增加了定量的功能，从原理上也为相控阵定量提供了一种新的定量方法，并提出利用衍射回波进行定量评价的概念，开拓衍射波检测的新思路。采用本发明方法可以准确、快速的对孔型缺陷的孔径大小做出评价，操作方法简单、方便。
