交易价格: 面议
所属行业: 检测仪器
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201510144943.6
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 西安交通大学
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所在地: 陕西西安市
本发明公开了一种基于弥散黏滞性波动方程的AVO/AVA分析方法,基于弥散黏滞性波动方程推导了两种频散介质界面上平面波的反射系数,该反射系数不仅与介质的参数有关,还明显地依赖于频率的变化。对于三种典型的介质,研究了其介质界面上反射系数随频率和入射角的变化特性,并将结果与基于声波方程的反射系数进行了对比分析。这种依赖于频率变化的反射特性(尤其在低频)在不同类型的介质中其响应不同,对于刻画储层和识别流体有着重要的指导意义。
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