X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们 | 帮助中心
欢迎来到天长市科技大市场,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00074061]一种单光谱实现多点应力分布监测的方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201610216494.6

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 南昌航空大学

进入空间

所在地: 江西南昌市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明涉及荧光传感及实验力学领域,具体涉及一种通过单次荧光光谱测量得到多点应力数据的方法。本发明的核心部份是本征发光特征不相同的多个荧光应力探测点。激发光照射到各个探测点,各点发出的荧光经会聚或合束后被同时记录在单个光谱上,该光谱携带了各探测点的应力信息,按不同特征区分不同探测点的荧光并分别经数据处理后得到应力在各探测点的分布信息。当取两个探测点的应力信息再作差分处理,差分结果即成为力平衡的控制或监测信号。

推荐服务:

Copyright  ©  2019    天长市科技大市场    版权所有

地址:滁州高新区经三路

皖ICP备2023004467