[00074553]多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置及方法
技术详细介绍
本发明公开了一种多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置及方法，该装置包括：上电极，用于与被老化片状试样的一面相接触；下电极，用于与被测绝缘材料片状试样的另一面相接触；第一恒温源，用于向上电极传导温度；第二恒温源，用于向下电极传导温度；高压直流电源，用于控制上电极的电压；电路保护着装置，用于保护电路中的设备以及未发生击穿的片状试样。本发明用于在高压直流电场与温度梯度场下对多组片状试样进行联合老化。
本发明公开了一种多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置及方法，该装置包括：上电极，用于与被老化片状试样的一面相接触；下电极，用于与被测绝缘材料片状试样的另一面相接触；第一恒温源，用于向上电极传导温度；第二恒温源，用于向下电极传导温度；高压直流电源，用于控制上电极的电压；电路保护着装置，用于保护电路中的设备以及未发生击穿的片状试样。本发明用于在高压直流电场与温度梯度场下对多组片状试样进行联合老化。
