[00078845]一种基于偏最小二乘回归模型的无机荧光粉检测方法
技术详细介绍
本发明公开了一种基于偏最小二乘回归模型的无机荧光粉检测方法,包括无机荧光粉和纯聚乙烯干燥步骤、定量混合步骤、研磨步骤、压片步骤、采用透射式太赫兹时域光谱仪扫描检测样品得到太赫兹时域光谱步骤、建立偏最小二乘回归模型步骤和计算最佳主成分数步骤，利用物质的THz光谱具有唯一性和特征性,采用THz‑TDS技术对荧光粉做到无损检测，对材料结构和物理性能没有影响的前提下，快速有效区分其内部细微结构的不同，检测区分不同厂家不同品牌的荧光粉，提高了检测方法的可靠性，能进一步推动THz光谱技术的应用和研究。
