[00078917]基于缝隙波导近场耦合的无源互调测试方法
技术详细介绍
本发明公开了一种基于缝隙波导近场耦合的无源互调测试方法，本方法是在常规PIM测试方法的基础上，在测试系统中加入缝隙波导结构，实现近场耦合PIM测试功能。包括低PIM带开缝的波导，调控耦合强度的介质板，缝隙尺寸及分布的优化方法。本发明能够用来评估微波部件材料非线性和接触非线性的大小，为微波部件低PIM设计和工艺控制提供指导，为生产环节中PIM来源提供检测方法，提高产品良率。
本发明公开了一种基于缝隙波导近场耦合的无源互调测试方法，本方法是在常规PIM测试方法的基础上，在测试系统中加入缝隙波导结构，实现近场耦合PIM测试功能。包括低PIM带开缝的波导，调控耦合强度的介质板，缝隙尺寸及分布的优化方法。本发明能够用来评估微波部件材料非线性和接触非线性的大小，为微波部件低PIM设计和工艺控制提供指导，为生产环节中PIM来源提供检测方法，提高产品良率。
