[00079028]一种LED芯片寿命加速估算方法
技术详细介绍
本发明提供了一种LED芯片寿命加速估算方法，其包括有选两个样品、老化前两个不同反向电压下初始反向电流的测量、高温下加快光通量衰减来进行老化测试、老化后两个不同反向电压下反向电流的测量、和寿命的公式估算这几个步骤，这样通过施加两个不同反向电压来测得样品在光衰减前后的反向电流，再利用计算公式就可加速估算出LED芯片的寿命，从而缩短产品研发周期，为改善LED芯片寿命提供了更有力的保障，并能有效缩短LED芯片寿命估算时间，减小试验成本。
本发明提供了一种LED芯片寿命加速估算方法，其包括有选两个样品、老化前两个不同反向电压下初始反向电流的测量、高温下加快光通量衰减来进行老化测试、老化后两个不同反向电压下反向电流的测量、和寿命的公式估算这几个步骤，这样通过施加两个不同反向电压来测得样品在光衰减前后的反向电流，再利用计算公式就可加速估算出LED芯片的寿命，从而缩短产品研发周期，为改善LED芯片寿命提供了更有力的保障，并能有效缩短LED芯片寿命估算时间，减小试验成本。
