[00079080]基于单双跳变的低功耗确定性BIST及种子压缩方法
技术详细介绍
本发明涉及大规模数字集成电路技术领域，一种基于单双跳变的低功耗确定性BIST及种子压缩方法，一方面，为了降低测试功耗，本发明使用了一种新型的单双跳变单元和ROM存储的控制信号通过单双混合跳变来生成确定性种子，然后利用单跳变重播种技术来生成确定性测试向量。同时，为了减少冗余向量的个数，减少测试时间，本发明还增加了2?bit减法计数器来约束重播种过程中确定性测试向量生成的个数。另一方面，为了压缩面积开销并生成控制信号，本发明还提出了对应的种子压缩方法，实验结果表明，本发明提出的BIST和种子压缩方法的测试性能，如测试时间、面积开销及测试功耗都有很大程度的降低。
