[00082290]光纤扰动探测方法及装置
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技术详细介绍
本发明公开了一种光纤扰动探测方法
本光纤扰动探测方法在测量时进行分段频率扫描，用同频光的散射曲线测量动态扰动，将K组测量下获得的传感光纤上任一点背向瑞利散射光光功率随频率的分布曲线与第一组测量下获得的对应点的背向瑞利散射光光功率随频率的分布曲线进行相关性检测，来测量准静态扰动，从而实现了对动态扰动信号和准静态信号的同时测量，大大提高了全分布式光纤传感器的测量功能和应用范围；本发明还公开了一种光纤扰动探测装置，本光纤扰动探测方法的测量系统装置结构简单且成本低；在测量时间上比分别利用两套系统进行动态和准静态扰动的测量时间缩短很多，且可实现动态和准静态扰动的不间断测量。
