交易价格: 面议
所属行业: 其他
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201510030113.0
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 四川钒钛产业技术研究院
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所在地: 四川攀枝花市
本发明公开了一种高电阻温度系数氧化钒薄膜的制备方法,包括:单晶硅衬底表面清洗,装入磁控溅射装置生长室;在单晶硅表面溅射氮化硅薄膜;在氮化硅薄膜上沉积一层氧化钒薄膜;在氧化钒薄膜上沉积一层硫化锌薄膜;在硫化锌薄膜上沉积一层氧化钒薄膜;对所沉积的薄膜样品进行退火处理。本发明无需高温退火处理,既保证了氧化钒薄膜制备与MEMS工艺和集成电路工艺的兼容性,又可以得到电阻率适中的氧化钒薄膜材料,可满足高性能氧化钒基非制冷型红外探测器的要求。
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