交易价格: 面议
所属行业: 检测仪器
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201210430443.5
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 中国科学院深圳先进技术研究院
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所在地: 广东深圳市
本发明涉及磁共振成像技术领域,提供了一种磁共振并行成像方法。 所述磁共振并行成像中对磁共振并行成像问题的求解包括三部分:传统并行成像部分、低秩约束部分和稀疏约束部分。本发明还提供了一种磁共振成像仪,所述磁共振成像仪采用前述的磁共振并行成像方法进行成像。本发明提出的基于稀疏约束和低秩约束的磁共振并行成像方法,在传统单一的磁共振并行成像方法基础之上,同时利用目标信号的稀疏性和低秩性,磁共振并行成像进一步约束并行成像问题的解空间,减少采样点的个数,在保证重建图像质量的同时提高成像速度。
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