[00009994]辐射环境中电子元器件的抗辐射性能对比实验系统和方法

交易价格： 面议

所属行业： 检测仪器

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201410462151.9

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：牛刚

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所在地：上海上海市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

摘要：本发明公开了一种在辐照环境中电子元器件的抗辐射性能对比实验系统和方法。本发明主要通过对比实验和每一支路单一变化量的思想实现，涉及对元件的实时监控和检测。系统主要包括测试和保护元件、内外连接线和外部监控三部分组成。本发明主要通过收集元件工作的回传参数进行结果对比分析，判断元器件的工作和损坏情况。这种方法可以有效地检测出元器件在辐射环境下的抗辐射性能，具有较强的操作性。

[00009994]辐射环境中电子元器件的抗辐射性能对比实验系统和方法

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