交易价格: 面议
所属行业: 分析仪器
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201510997885.1
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 中国科学院深圳先进技术研究院
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所在地: 广东深圳市
本申请公开了一种探测器晶体阵列分辨图处理方法,包括:产生测量信号;读出晶体阵列的测量信号;基于所述测量信号,进行权重调整,提高大能量单元的权重,计算晶体分辨图。本申请还公开了一种探测器晶体阵列分辨图处理装置。本申请通过调整单元的权重,提高大能量单元的权重,从而降低信噪比小的单元的影响,能有效提高探测器晶体分辨图的质量。
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