[00094540]I-V二阶微分测量方法及装置
联系人： 中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
所在地： 江苏苏州市
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技术详细介绍
本发明公开了一种I-V二阶微分测量方法及装置。该装置包括直流信号源、函数发生器、具有分压作用的交直流加法器、前置放大器，锁相放大器及环境条件控制系统；该方法是：将选定频率的交流小信号通过交直流加法器与直流偏压叠加，共同作用于测试样品，含有测试样品信息的信号经前置放大器放大转换成电压信号，由锁相测量倍频信号电压。本发明的优点至少在于：（1）交直流加法器交流通路里含有分压器；（2）交流信号由函数发生器提供，精度较高，并经过分压后幅度很小，降低了其对直流偏置信号的影响，提高了信噪比；（3）直接测量I-V二阶微分随外界条件的变化曲线，方法简单，结果精确直观，并且对测试者电路设计水平要求不高。
