交易价格: 面议
所属行业: 检测仪器
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201510604412.0
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 重庆大学
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所在地: 重庆重庆市
摘要:本发明涉及一种基于X射线能谱CT和X射线荧光CT技术的双模态分子成像系统,属于X射线探测与成像技术领域。该成像系统包括一个射线源、一个X射线能量分辨光子计数探测器和一个X射线荧光探测器,该成像系统的射线源采用一个多色的微焦点X光源,可同时为X射线能谱CT和X射线荧光CT成像提供X射线束,从而使得该系统具有X射线能谱CT成像功能和X射线荧光CT成像功能。该成像系统能够很好的解决医学CT图像不同软组织对比度较差等问题,可以提高基于X-CT技术的结构和功能成像效果。
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