当前高端集成电路测试对速度、精度、通道数要求提升，现有 T800 系列测试速度 800Mbps、I/O 通道 1920 个，TP 系列功率测试指标达 1200V@1000A，已无法满足更高性能芯片测试需求。需突破超高速、超高精度、超多通道测试技术瓶颈，解决更高功率半导体器件测试难题，适配新一代芯片研发与量产测试场景。
【社会信用代码】：123400004856178921
【单位联系人】：詹文法
【手机号码】：13955612021
【需求单位】：安庆师范大学
【需求所在省市】：安徽省/安庆市
【需求类型】：技术
【合作方式】：技术开发
【投入金额（万元）：5000万元
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